BITFLIP - Plateformes virtuelles
20 nov. 2025 — 13:30 - 15:30Réfectoire
Pitch
BITFLIP
Suite au succès de la première édition de la conférence « BITFLIP by DGA » (CyBer, relIability and Tolerance of FauLts in electronIc comPonents), la DGA Maitrise de l’information, en partenariat avec CREACH LABS, inscrit la seconde édition de cet évènement au programme de la European Cyber Week 2025.
Ce workshop de 2 jours donne l’opportunité aux experts académiques, industriels et institutionnels français et européens des domaines du durcissement (environnement radiatif) et de la protection matérielle et logicielle (cybersécurité), de se rencontrer et d’échanger sur les disciplines de la tolérance aux fautes et de la protection contre les injections de fautes lors d’un seul et même événement.
Au programme :
Des présentations institutionnelles sur les grands principes de ces deux domaines,
Des exposés industriels sur la mise en place de techniques de durcissement et de contre-mesures pour détecter et se protéger des injections de fautes,
Des présentations de travaux de recherche académique en cours.
Comité de pilotage
Youri HELEN (DGA MI)
Karine CHATEL (UR - CREACH LABS)
David ELLEOUET (DGA MI)
Julien MICOLOD (DGA MI)
Rachid DAFALI (DGA MI)
Vincent MERCIER (DGA MI)
Maxime RICAUD (DGA MI)
Géraldine Chaumont (ST)
Angeliki KRITIKAKOU (UR - IRISA)
Laurent PICHON (UR - IETR)
Guillaume BOUFFARD (ANSSI)
Guillaume HUBERT (ONERA)
Florent MILLER (NUCLETUDES)
Vianney LAPOTRE (UBS - Lab-STICC)
Rémy PRIEM (DGA MI)
Programme
13h30 - 15h30 : Plateformes virtuelles
- 13h30-13h50 : Écosystème de développement d'applications NG-Ultra par Marion Le Penven (Airbus Defence and Space)
- 13h50-14h10 : Plateforme virtuelle pour la vérification et la validation de systèmes sur puce hétérogènes basées sur la simulation par Stéphane BAUDRAND (MBDA)
- 14h10-14h30 : Améliorez la robustesse de vos logiciels embarqués grâce à la plateforme virtuelle Simics et à l'injection de défauts matériels par Nicolas Van Spaandonck (Wind River)
- 14h30-14h50 : Analyse de la robustesse des microarchitectures face aux attaques par injection de défauts par Mahieu Jan et Damien Couroussé (CEA LIST)
- 14h50 - 15h10 : Simulation TCAD de l'injection de défauts laser par Laurent Le Brizoual (IETR RENNES)
15h10-15h30 : Utilisation de données de profilage de haut niveau pour évaluer précocement la tolérance aux défauts de composants numériques complexes par Luc Noizette (Nuclétudes)