BITFLIP - Impact des fautes
19 nov. 2025 — 16:00 - 18:00Réfectoire
Pitch
BITFLIP
Suite au succès de la première édition de la conférence « BITFLIP by DGA » (CyBer, relIability and Tolerance of FauLts in electronIc comPonents), la DGA Maitrise de l’information, en partenariat avec CREACH LABS, inscrit la seconde édition de cet évènement au programme de la European Cyber Week 2025.
Ce workshop de 2 jours donne l’opportunité aux experts académiques, industriels et institutionnels français et européens des domaines du durcissement (environnement radiatif) et de la protection matérielle et logicielle (cybersécurité), de se rencontrer et d’échanger sur les disciplines de la tolérance aux fautes et de la protection contre les injections de fautes lors d’un seul et même événement.
Au programme :
Des présentations institutionnelles sur les grands principes de ces deux domaines,
Des exposés industriels sur la mise en place de techniques de durcissement et de contre-mesures pour détecter et se protéger des injections de fautes,
Des présentations de travaux de recherche académique en cours.
Comité de pilotage
Youri HELEN (DGA MI)
Karine CHATEL (UR - CREACH LABS)
David ELLEOUET (DGA MI)
Julien MICOLOD (DGA MI)
Rachid DAFALI (DGA MI)
Vincent MERCIER (DGA MI)
Maxime RICAUD (DGA MI)
Géraldine Chaumont (ST)
Angeliki KRITIKAKOU (UR - IRISA)
Laurent PICHON (UR - IETR)
Guillaume BOUFFARD (ANSSI)
Guillaume HUBERT (ONERA)
Florent MILLER (NUCLETUDES)
Vianney LAPOTRE (UBS - Lab-STICC)
Rémy PRIEM (DGA MI)
Programme
16h00 - 18h00 : Impacts des défauts
- 16h00-16h20 : Attaques par rayons X sur des dispositifs à nœuds technologiques 28 nm par Laurent Maingault (CESTI CEA)
- 16h20-16h40 : Problèmes liés aux mémoires non volatiles dans un environnement spatial radiatif par Guillaume Bourg-Cazan (Microchip)
- 16h40 - 17h00 : Atténuation hybride des défauts pour les réseaux neuronaux basée sur la sensibilité directionnelle et positionnelle des bits par Wilfread Guilleme (INRIA LANNION)
- 17h00 - 17h20 : Exploration des attaques par injection de défauts sur le flux de configuration PMP CVA6 par Kévin Quénéhervé (Lab-STICC UBS Lorient)
- 17h20 - 17h40 : Méthodologie d'évaluation FPGA des effets néfastes des rayons X sur les circuits numériques sécurisés par Paolo Maistri (TIMA Genoble)
- 17h40 - 18h00 : Estimation des taux de défaillance des systèmes d'IA via l'injection statistique de fautes : compromis entre approches conservatrices et itératives par Annachiara Ruospo (Politecnico di Torino, Italie)